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有限会社ワイ・システムズ
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第34895位 0件
（
2012年：第11791位 1件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第9789位 1件
（
2012年：第25637位 0件）
（ランキング更新日：2025年3月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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有限会社ワイ・システムズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5232250 | 半導体成膜時の温度測定方法 | 2013年 7月10日 |
1 件中 1-1 件を表示
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