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出願人名に「京元電子股▲ふん▼有限公司」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 4825782 | 自動検査設備内部の寄生容量を精密に計測するシステム、回路および方法 | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2011年11月30日 |
| 特許 4808237 | 分離装置 | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2011年11月 2日 |
| 特許 4790367 | 電子部品テストシステム | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2011年10月12日 |
| 特許 4783760 | ＺＩＦコネクタを有するプローブカードとそのウェハテストシステム、テストボードおよびそのテストシステム | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2011年 9月28日 |
| 特許 4774091 | 電源タワーを具えた多層バーンイン基板構造 | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2011年 9月14日 |
| 特許 4767302 | ベアチップ用両面検査設備 | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2011年 9月 7日 |
| 特許 4729025 | 断熱レンズセット | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2011年 7月20日 |
| 特許 4632696 | 電子装置試験用の試験パルス生成方法とシステム | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2011年 2月16日 |
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4825782 4808237 4790367 4783760 4774091 4767302 4729025 4632696
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