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出願人名に「京元電子股▲ふん▼有限公司」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5015188 | 電気チャネル自己検査式半導体試験システム | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2012年 8月29日 |
| 特許 5001972 | メモリ補修分析自己検査機能を具えた半導体検査システム | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2012年 8月15日 |
| 特許 4870144 | 制御信号数量を拡充可能なチップバーンイン装置 | 京元電子股▲ふん▼有限公司 | 2012年 2月 8日 |
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5015188 5001972 4870144
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