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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5162453 | 非干渉性多色X線源を用いた定量的位相コントラスト画像法及び断層撮影法のための干渉計 | パウル・シェラー・インスティトゥート | 2013年 3月13日 |
特許 5119333 | 波形デジタイジングに対する高速読み出し法およびスイッチトキャパシタアレイ | パウル・シェラー・インスティトゥート | 2013年 1月16日 |
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5162453 5119333
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1月20日(月) -
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1月21日(火) -
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1月21日(火) - 大阪 大阪市
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1月22日(水) -
1月22日(水) -
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1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) - 東京 港区
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月24日(金) - 東京 港区
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) -
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) - 大阪 大阪市
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1月24日(金) - 東京 千代田区
1月20日(月) -
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1月28日(火) -
1月28日(火) -
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