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上海集成電路研発中心有限公司
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（
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（
2023年：第6302位 2件）
（ランキング更新日：2025年3月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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上海集成電路研発中心有限公司の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7448671 | 半導体デバイスの欠陥検査方法、装置及び可読記憶媒体 | 2024年 3月12日 | |
| 特許 7423792 | ウェハ検査装置、データ処理方法及び記憶媒体 | 2024年 1月29日 | |
| 特許 7422893 | 検査対象欠陥パターンの優先順位付け装置、順位付け方法及び記憶媒体 | 2024年 1月26日 |
3 件中 1-3 件を表示
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7448671 7423792 7422893
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