公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
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特許 5090147 | 欠陥検査方法、欠陥検査装置及びそれに用いるライン状光源装置 | 株式会社メック | 2012年12月 5日 |
特許 5015125 | 斜面安定擬似受圧体設置工法及びその設置工法に用いる擬似受圧体 | 株式会社メック宮崎 他 | 2012年 8月29日 |
特許 4956077 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | 株式会社メック | 2012年 6月20日 |
特許 4917364 | 検査装置および検査方法 | 株式会社メック | 2012年 4月18日 |
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5090147 5015125 4956077 4917364
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -