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- 出願人詳細情報 -
出願人名に「株式会社メック」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5639433 | 欠陥検査装置および欠陥検査の閾値設定方法 | 株式会社メック | 2014年12月10日 |
| 特許 5610711 | 欠陥検査装置 | 株式会社メック | 2014年10月22日 |
| 特許 5592635 | 判定装置、判定方法、およびコンピュータープログラム | 株式会社メック | 2014年 9月17日 |
| 特許 5513069 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 株式会社メック | 2014年 6月 4日 |
| 特許 5470130 | タグ | 株式会社メックモールド | 2014年 4月16日 |
| 特許 5382637 | エレクトロスピニング装置用スピナレット | 株式会社メック 他 | 2014年 1月 8日 |
| 特許 5383937 | ナノファイバ製造装置 | 株式会社メック | 2014年 1月 8日 |
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5639433 5610711 5592635 5513069 5470130 5382637 5383937
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