公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特開 2014-177728 | ナノファイバ製造装置 | 株式会社メック | 2014年 9月25日 |
特開 2014-145660 | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 | 株式会社メック | 2014年 8月14日 |
特開 2014-106141 | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 | 株式会社メック | 2014年 6月 9日 |
特開 2014-101119 | ファスナー部材 | 株式会社メックモールド 他 | 2014年 6月 5日 |
4 件中 1-4 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2014-177728 2014-145660 2014-106141 2014-101119
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社メックの知財の動向チェックに便利です。
5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
5月19日(月) -
5月20日(火) - 東京 品川区
5月20日(火) -
5月21日(水) - 東京 港区
5月21日(水) - 東京 大田区
5月22日(木) - 東京 港区
5月22日(木) -
5月23日(金) - 東京 千代田区
5月23日(金) - 大阪 大阪市
5月19日(月) -
〒541-0046 大阪市中央区平野町2丁目2番9号 ビル皿井2階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒102-0072 東京都千代田区飯田橋4-1-1 飯田橋ISビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
東京都江戸川区西葛西3-13-2-501 特許・実用新案 意匠 商標 訴訟 鑑定 コンサルティング