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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第5373位 3件 (2017年:第7815位 2件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第8638位 1件 (2017年:第8798位 1件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特表 2018-519497 | 偏光軸測定デバイスを較正するための方法、および偏光軸測定デバイスのための眼鏡レンズの偏光軸を決定するための方法 | 2018年 7月19日 | |
特表 2018-515747 | 少なくとも部分的に透明な物体の表面に関連する表面データおよび/または測定データを決定するための方法および装置 | 2018年 6月14日 | |
特表 2018-503129 | 層システムおよび層システムを備える光学素子 | 2018年 2月 1日 |
3 件中 1-3 件を表示
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2018-519497 2018-515747 2018-503129
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11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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