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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第5373位 3件 (2017年:第7815位 2件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第8638位 1件 (2017年:第8798位 1件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2018-519497 | 偏光軸測定デバイスを較正するための方法、および偏光軸測定デバイスのための眼鏡レンズの偏光軸を決定するための方法 | 2018年 7月19日 | |
特表 2018-515747 | 少なくとも部分的に透明な物体の表面に関連する表面データおよび/または測定データを決定するための方法および装置 | 2018年 6月14日 | |
特表 2018-503129 | 層システムおよび層システムを備える光学素子 | 2018年 2月 1日 |
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2018-519497 2018-515747 2018-503129
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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