公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特開 2012-180202 | ワーク受渡装置及びワーク受渡方法 | 株式会社ユニテック | 2012年 9月20日 |
特開 2012-159457 | 積分球装置及び光測定方法 | 株式会社ユニテック | 2012年 8月23日 |
特開 2012-156120 | ソケット用雌端子 | 株式会社ユニテック | 2012年 8月16日 |
特開 2012-102832 | バルブ | 株式会社ユニテックス | 2012年 5月31日 |
特開 2012-98131 | 配光特性測定装置、配光特性検査装置、配光特性測定プログラム、配光特性測定方法および配光特性検査方法 | 株式会社ユニテック | 2012年 5月24日 |
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2012-180202 2012-159457 2012-156120 2012-102832 2012-98131
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
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