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出願人名に「シノプシス， インコーポレイテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特表 2011-530106 | ３ＤＩＣのためのフロアプランニングを容易にするための方法およびシステム | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年12月15日 |
| 特表 2011-529238 | 順序セルを接近配置する方法及び装置 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年12月 1日 |
| 特表 2011-528848 | マイクロ電気機械システムスイッチを用いた静電放電保護 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年11月24日 |
| 特表 2011-527835 | プロセス変動の影響を決定するための方法および装置 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年11月 4日 |
| 特表 2011-519455 | 詳細なルーティング可能性推定を計算するための方法および装置 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年 7月 7日 |
| 特表 2011-519094 | 中間値を用いて動作コンストラクトをシミュレーションするための方法および装置 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年 6月30日 |
| 特表 2011-515711 | フォトマスク形状の非均一分割を検出するための方法および機器 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年 5月19日 |
| 特表 2011-507399 | 可変インピーダンスゲートデカップリングセル | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年 3月 3日 |
| 特表 2011-501437 | 半導体基板における格子欠陥の抑制方法 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年 1月 6日 |
| 特表 2011-501438 | 半導体基板におけるイオン注入損傷のトラップ方法 | シノプシス， インコーポレイテッド | 2011年 1月 6日 |
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2011-530106 2011-529238 2011-528848 2011-527835 2011-519455 2011-519094 2011-515711 2011-507399 2011-501437 2011-501438
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