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株式会社日立ハイテクソリューションズ
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第1835位 12件
（
2022年：第2007位 11件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第1999位 9件
（2022年：第2054位 9件）
（ランキング更新日：2025年5月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクソリューションズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2023-175316 | 欠陥検査装置 | 2023年12月12日 | |
| 特開 2023-161769 | 二重化通信インターフェースモジュールの切替方法 | 2023年11月 8日 | |
| 特開 2023-143457 | 制御装置、操作量算出モデル生成装置および制御方法 | 2023年10月 6日 | |
| 特開 2023-139679 | 化学物質検知装置及び化学物質検知方法 | 2023年10月 4日 | |
| 特開 2023-106472 | 異常検知装置及び異常検知方法 | 2023年 8月 1日 | |
| 特開 2023-97909 | 検査システム、検査方法 | 2023年 7月10日 | |
| 特開 2023-96587 | 化学物質検査装置 | 2023年 7月 7日 | |
| 特開 2023-90022 | プラントの内部状態を可視化する方法、システムおよびプログラム | 2023年 6月29日 | |
| 特開 2023-88122 | 監視システム | 2023年 6月26日 | |
| 特開 2023-88155 | 監視システム | 2023年 6月26日 | |
| 特開 2023-32000 | 制御システムおよび制御方法 | 2023年 3月 9日 | |
| 特開 2023-8169 | 表面検査装置 | 2023年 1月19日 |
12 件中 1-12 件を表示
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2023-175316 2023-161769 2023-143457 2023-139679 2023-106472 2023-97909 2023-96587 2023-90022 2023-88122 2023-88155 2023-32000 2023-8169
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