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株式会社日立ハイテクソリューションズ
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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第1886位 11件
（
2023年：第1835位 12件）
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第2210位 8件
（2023年：第1999位 9件）
（ランキング更新日：2025年2月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクソリューションズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2024-176924 | プラント制御システム、及び、プラント制御方法 | 2024年12月19日 | |
| 特開 2024-172579 | 検査装置管理システムおよび方法 | 2024年12月12日 | |
| 特開 2024-119355 | 生産プロセス制御方法およびシステム | 2024年 9月 3日 | |
| 特開 2024-113374 | 制御ソフトウェア作成支援方法及び制御ソフトウェア作成支援プログラム | 2024年 8月22日 | |
| 特開 2024-76796 | プラント管理システムおよび方法 | 2024年 6月 6日 | |
| 特開 2024-74340 | 無線センサ端末、センサ情報検出方法、無線センサ端末システム | 2024年 5月31日 | |
| 特開 2024-70469 | 製造を支援するシステム及び製造を支援する方法 | 2024年 5月23日 | |
| 特開 2024-46384 | イオン源、質量分析計、及び、イオン源製造方法 | 2024年 4月 3日 | |
| 特開 2024-29845 | プロセス制御装置、および、プロセス制御方法 | 2024年 3月 7日 | |
| 特開 2024-18006 | 無線センサ端末、測定周波数設定方法 | 2024年 2月 8日 | |
| 特開 2024-4075 | トロリ線高さの検測装置 | 2024年 1月16日 |
11 件中 1-11 件を表示
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2024-176924 2024-172579 2024-119355 2024-113374 2024-76796 2024-74340 2024-70469 2024-46384 2024-29845 2024-18006 2024-4075
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
2月18日(火) -
2月19日(水) - 東京 港区
2月19日(水) -
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2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
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2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 －自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法－ ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月17日(月) - 大阪 大阪市
（オンライン参加可）体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする？～海外で商標権がバッティング？オープンファクトリーの知財リスク？～
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