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ニコン・メトロロジー・エヌヴェ
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第33722位 0件
（
2019年：第34904位 0件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第8780位 1件
（
2019年：第2101位 7件）
（ランキング更新日：2025年11月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ニコン・メトロロジー・エヌヴェの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6735667 | コンピュータ断層撮影の較正装置および方法 | 2020年 8月 5日 | |
| 特許 6726788 | 荷電粒子装置、構造物の製造方法および構造物製造システム | 2020年 7月22日 |
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6735667 6726788
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