株式会社キーエンス
※ ログインすれば出願人(株式会社キーエンス)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第406位 87件
（
2015年：第315位 126件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第460位 62件
（
2015年：第491位 50件）
（ランキング更新日：2025年6月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社キーエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5956814 | 外観検査装置、外観検査方法及びコンピュータプログラム | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5956911 | 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5956932 | 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5956941 | 光学コード読取システム及び光学コードの読取制御方法 | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5957063 | 顕微鏡システム | 2016年 7月27日 | |
| 特許 5953195 | 撮影解析装置、その制御方法及び撮影解析装置用のプログラム | 2016年 7月20日 | |
| 特許 5947168 | 外観検査装置、外観検査装置の制御方法およびプログラム | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5947169 | 外観検査装置、外観検査法およびプログラム | 2016年 7月 6日 | |
| 特許 5937376 | 光学式変位計 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5937899 | レベル計及びその制御方法 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5937901 | レベル計及びその制御方法 | 2016年 6月22日 | |
| 特許 5934516 | 検査領域表示装置及び検査領域表示方法 | 2016年 6月15日 | |
| 特許 5921190 | 画像処理装置及び画像処理方法 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5921732 | 三次元造形装置及び三次元造形方法 | 2016年 5月24日 | |
| 特許 5917072 | 画像処理装置および画像処理プログラム | 2016年 5月11日 |
62 件中 31-45 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5956814 5956911 5956932 5956941 5957063 5953195 5947168 5947169 5937376 5937899 5937901 5934516 5921190 5921732 5917072
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社キーエンスの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
7月1日(火) -
7月2日(水) -
7月2日(水) -
7月3日(木) -
7月3日(木) -
7月1日(火) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒500-8842 岐阜県岐阜市金町六丁目21 岐阜ステーションビル304 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒101-0032 東京都千代田区岩本町3-2-10 SＮ岩本町ビル9階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒445-0802 愛知県西尾市米津町蓮台６－１０ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
