特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ホーム > 特許ランキング > 株式会社キーエンス > 2022年 > 出願公開一覧

株式会社キーエンス

※ ログインすれば出願人(株式会社キーエンス)をリストに登録できます。ログインについて

  2022年 出願公開件数ランキング    第484位 67件 下降2021年:第341位 108件)

  2022年 特許取得件数ランキング    第339位 89件 上昇2021年:第377位 69件)

(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年  2012年  2013年  2014年  2015年  2016年  2017年  2018年  2019年  2020年  2021年  2023年  2024年  2025年 

公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2022-158229 プログラマブルロジックコントローラシステム 2022年10月17日
特開 2022-158230 プログラマブルロジックコントローラ 2022年10月17日
特開 2022-158231 プログラム作成支援装置 2022年10月17日
特開 2022-158232 アプリケーション作成支援装置、その制御方法、およびシステム 2022年10月17日
特開 2022-158515 三次元形状測定装置 2022年10月17日
特開 2022-158516 三次元形状測定装置 2022年10月17日
特開 2022-158517 三次元形状測定装置 2022年10月17日
特開 2022-145855 安全スイッチ 2022年10月 4日
特開 2022-144178 情報読取セット、情報読取装置及び拡張モジュール 2022年10月 3日
特開 2022-138732 インクジェット記録装置及びこれに適用される中間コネクタ 2022年 9月26日
特開 2022-138028 光学式変位計測システム、処理装置、光学式変位計測方法および光学式変位計測プログラム 2022年 9月22日
特開 2022-134482 光学的情報読取装置 2022年 9月15日
特開 2022-135893 光学的情報読取装置 2022年 9月15日
特開 2022-127535 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器 2022年 8月31日
特開 2022-127536 拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記憶した機器 2022年 8月31日

67 件中 16-30 件を表示

をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2022-158229 2022-158230 2022-158231 2022-158232 2022-158515 2022-158516 2022-158517 2022-145855 2022-144178 2022-138732 2022-138028 2022-134482 2022-135893 2022-127535 2022-127536

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社キーエンスの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

  • このサイトをYahoo!ブックマークに登録
  • はてなブックマークに追加

特許ランキング

2025年 特許出願件数2025年 特許取得件数
2024年 特許出願件数2024年 特許取得件数
2023年 特許出願件数2023年 特許取得件数
2021年 特許出願件数2021年 特許取得件数
2020年 特許出願件数2020年 特許取得件数
2019年 特許出願件数2019年 特許取得件数
2018年 特許出願件数2018年 特許取得件数
2017年 特許出願件数2017年 特許取得件数
2016年 特許出願件数2016年 特許取得件数
2015年 特許出願件数2015年 特許取得件数
2014年 特許出願件数2014年 特許取得件数
2013年 特許出願件数2013年 特許取得件数
2012年 特許出願件数2012年 特許取得件数
2011年 特許出願件数2011年 特許取得件数
出願人を検索

今週の知財セミナー (2月17日~2月23日)

来週の知財セミナー (2月24日~3月2日)

2月26日(水) - 東京 港区

実務に則した欧州特許の取得方法

特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介

オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門

東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定 

弁理士法人 湘洋特許事務所

〒220-0004 横浜市西区北幸1-5-10 JPR横浜ビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

浅村合同事務所

東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー 22階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング