公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特開 2014-153435 | フォトマスク及びそのフォトマスクの製造方法 | 株式会社エスケーエレクトロニクス | 2014年 8月25日 |
特開 2014-95827 | レーザ描画装置及びレーザ描画方法 | 株式会社エスケーエレクトロニクス | 2014年 5月22日 |
特開 2014-74827 | エッジ強調型位相シフトマスクの製造方法及びエッジ強調型位相シフトマスク | 株式会社エスケーエレクトロニクス | 2014年 4月24日 |
3 件中 1-3 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2014-153435 2014-95827 2014-74827
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社エスケーの知財の動向チェックに便利です。
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月2日(水) -
4月2日(水) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
東京都武蔵野市吉祥寺本町1丁目35-14-202 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 鑑定 コンサルティング
兵庫県西宮市上大市2丁目19 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 コンサルティング
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング