特許ランキング - 出願人詳細情報 -

テラダイン・インコーポレーテッド

※ ログインすれば出願人(テラダイン・インコーポレーテッド)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2011年出願公開件数ランキング　　　　件（2010年：　件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　　件（2010年：　件）

（ランキング更新日：2026年10月15日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年 2026年

テラダイン・インコーポレーテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特許 4842131	バイアス電流補償回路を有するタイミング発生器及び方法	2011年12月21日
特許 4828700	集積多重チャンネルアナログテスト装置のアーキテクチャ	2011年11月30日
特許 4808398	信号純度を高めた高分解能シンセサイザ	2011年11月 2日
特許 4808883	デューティ・サイクル制御による低ジッタ・フェーズロック・ループ	2011年11月 2日
特許 4800534	半導体検査装置及び自動検査装置	2011年10月26日
特許 4758439	半導体デバイスを試験する方法及びシステム	2011年 8月31日
特許 4758005	自動テスト機器の故障捕捉装置および方法	2011年 8月24日
特許 4708566	自動試験装置用遠隔試験モジュール	2011年 6月22日
特許 4699029	自動試験装置のためのシリコン・オン・インシュレータ・チャネルアーキテクチャ	2011年 6月 8日
特許 4698680	高電圧機能を備えたピンエレクトロニクス	2011年 6月 8日
特許 4689681	被試験デバイスのための電源としてパラメトリック測定ユニットを使用する方法及び装置	2011年 5月25日
特許 4688390	高分解能スキュー検出装置及び方法	2011年 5月25日
特許 4689125	自動試験装置における改良試験及び較正回路及び方法	2011年 5月25日
特許 4684508	高精度マルチモデル半導体検査のための低コストタイミングシステム	2011年 5月18日
特許 4672057	自動試験装置の較正	2011年 4月20日

21 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

4842131 4828700 4808398 4808883 4800534 4758439 4758005 4708566 4699029 4698680 4689681 4688390 4689125 4684508 4672057

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2026年特許出願件数	2026年特許取得件数
2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数