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テラダイン・インコーポレーテッド
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第34895位 0件
（
2012年：第4129位 4件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第1870位 12件
（2012年：第1540位 16件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テラダイン・インコーポレーテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5362220 | ジッタを測定する方法及び装置 | 2013年12月11日 | |
| 特許 5318767 | テスタ入力／出力共用 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5254794 | デジタル信号のタイミングを試験するためのストローブ技法 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5254795 | デジタル信号にタイムスタンプを付与するためのストローブ技法 | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5254919 | 高性能テスターインタフェースモジュール | 2013年 8月 7日 | |
| 特許 5244099 | 試験デバイスの較正 | 2013年 7月24日 | |
| 特許 5237431 | スマートカードおよび識別装置のための検出システム | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5209770 | パケットベース・メモリテスタ用パターン発生器 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5199071 | インピーダンス調整がなされるバイア構造 | 2013年 5月15日 | |
| 特許 5179864 | 精密時間測定装置及び方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許 5172341 | 基板アッセンブリ、多層回路板アッセンブリ、ボール・グリッド・アレーパッケージ、電子アッセンブリ、基板アッセンブリ内の寄生容量を最小にする方法および基板アッセンブリを製造する方法 | 2013年 3月27日 | |
| 特許 5173097 | 半導体並列テスタ | 2013年 3月27日 |
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5362220 5318767 5254794 5254795 5254919 5244099 5237431 5209770 5199071 5179864 5172341 5173097
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