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スティヒティング・イメック・ネーデルラント
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第3099位 6件
（
2015年：第4198位 4件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第9250位 1件
（
2015年：第8612位 1件）
（ランキング更新日：2025年5月9日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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スティヒティング・イメック・ネーデルラントの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2016-212095 | 細孔膜を備えた参照電極 | 2016年12月15日 | |
| 特開 2016-165103 | ＡＤＣにおける比較器オフセット誤差検出及び補正のための回路及び方法 | 2016年 9月 8日 | |
| 特開 2016-152625 | ＡＤＣにおけるＤＡＣのミスマッチエラーの検出と補正のための回路及び方法 | 2016年 8月22日 | |
| 特開 2016-121992 | ドリフト補償されたイオンセンサ | 2016年 7月 7日 | |
| 特開 2016-119663 | 動的に調整可能なオフセット遅延を有するＴＤＣ回路を備えるＡＤＰＬＬ | 2016年 6月30日 | |
| 特開 2016-96533 | 発振器デバイス | 2016年 5月26日 |
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2016-212095 2016-165103 2016-152625 2016-121992 2016-119663 2016-96533
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