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サーモ フィッシャー サイエンティフィック （ブレーメン） ゲーエムベーハー
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第2430位 8件
（
2024年：第1269位 18件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第1286位 15件
（
2024年：第2208位 8件）
（ランキング更新日：2026年10月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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サーモ フィッシャー サイエンティフィック （ブレーメン） ゲーエムベーハーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7765434 | 質量スペクトルデータを取得するための方法及び質量分析システム | 2025年11月 6日 | |
| 特許 7758797 | 質量分析の方法、質量分析計、及びコンピュータソフトウェア | 2025年10月22日 | |
| 特許 7751694 | 軸方向イオン源 | 2025年10月 8日 | |
| 特許 7749623 | 質量スペクトルデータを取得するための方法及び質量分析システム | 2025年10月 6日 | |
| 特許 7723797 | 質量分析計のための電圧供給 | 2025年 8月14日 | |
| 特許 7707337 | ハイブリッド質量分析計及びデータ取得方法 | 2025年 7月14日 | |
| 特許 7681157 | 電荷低減方法及びイオン光学系 | 2025年 5月21日 | |
| 特許 7678038 | 質量スペクトルデータを取得するための方法及び質量分析システム | 2025年 5月15日 | |
| 特許 7659111 | イオン光学系用高電圧ＲＦ発生器 | 2025年 4月 8日 | |
| 特許 7652942 | 質量分析計を較正する方法 | 2025年 3月27日 | |
| 特許 7641417 | タンデム質量分析計及びタンデム質量分析の方法 | 2025年 3月 6日 | |
| 特許 7640622 | 質量分析法におけるイオンピーク面積の処理 | 2025年 3月 5日 | |
| 特許 7634599 | 標識された分析物分子の飛行時間型質量分析 | 2025年 2月21日 | |
| 特許 7633449 | 飛行時間型質量分析システム | 2025年 2月19日 | |
| 特許 7617161 | サイクリックイオン分析器スペクトルの曖昧さ除去 | 2025年 1月17日 |
15 件中 1-15 件を表示
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7765434 7758797 7751694 7749623 7723797 7707337 7681157 7678038 7659111 7652942 7641417 7640622 7634599 7633449 7617161
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