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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第4224位 4件
(2015年:第2742位 7件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第2650位 6件
(2015年:第2434位 6件)
(ランキング更新日:2025年4月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 6046740 | 質量分光計の真空インターフェース方法および真空インターフェース装置 | 2016年12月21日 | |
特許 6030662 | 質量分光計の真空インターフェース方法および真空インターフェース装置 | 2016年11月24日 | |
特許 6002755 | イオン検出 | 2016年10月 5日 | |
特許 5908495 | イオン検出システムおよび方法 | 2016年 4月26日 | |
特許 5864554 | 質量分析検出器およびイオンの特性を測定する方法 | 2016年 2月17日 | |
特許 5860958 | タンデム質量分析のためのターゲット分析 | 2016年 2月16日 |
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6046740 6030662 6002755 5908495 5864554 5860958
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4月4日(金) -
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4月9日(水) -
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4月10日(木) - 東京 港区赤坂3-9-1 紀陽ビル4階
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