応用地質株式会社
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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第7573位 2件
（
2019年：第3655位 5件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第5436位 2件
（2019年：第5347位 2件）
（ランキング更新日：2025年6月23日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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応用地質株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6793505 | 水底地盤の探査方法 | 2020年12月 2日 | |
| 特許 6782879 | 放射能測定装置及び放射能測定方法 | 2020年11月11日 | |
| 特許 6766122 | 水底微動探査装置 | 2020年10月 7日 | |
| 特許 6666278 | 地盤試料のサンプリングシステムおよびこれを用いたサンプリング方法 | 2020年 3月13日 |
4 件中 1-4 件を表示
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6793505 6782879 6766122 6666278
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