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パナリティカル ビー ヴィ

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  2020年 出願公開件数ランキング    第7573位 2件 下降2019年:第3170位 6件)

  2020年 特許取得件数ランキング    第1945位 8件 上昇2019年:第3203位 4件)

(ランキング更新日:2025年3月14日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6804594 標準品の作製方法 2020年12月23日
特許 6785752 グレージング入射X線反射率独立モデル 2020年11月18日
特許 6781196 蛍光X線を用いた圧粉サンプルの測定 2020年11月 4日
特許 6767961 X線測定のための円錐コリメータ 2020年10月14日
特許 6762734 定量X線分析及び比率補正方法 2020年 9月30日
特許 6709814 高分解能X線回折方法および装置 2020年 6月17日
特許 6706932 定量X線分析方法及びマルチ光路機器 2020年 6月10日
特許 6701133 X線分析のためのサンプルホルダ 2020年 5月27日

8 件中 1-8 件を表示

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6804594 6785752 6781196 6767961 6762734 6709814 6706932 6701133

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