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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第5218位 3件
(2013年:第5661位 3件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第4015位 4件
(2013年:第3352位 5件)
(ランキング更新日:2025年8月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5578894 | 半導体装置の製造精度判定方法及びその装置 | 2014年 8月27日 | |
特許 5483378 | フラッシュメモリの劣化検査装置、劣化検査方法及劣化検査用プログラム | 2014年 5月 7日 | |
特許 5455682 | 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理用プログラム | 2014年 3月26日 | |
特許 5441737 | 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理用プログラム | 2014年 3月12日 |
4 件中 1-4 件を表示
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5578894 5483378 5455682 5441737
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