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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第1646位 13件 (2023年:第1835位 12件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1447位 14件 (2023年:第913位 25件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2024-151655 | 表示文言検査装置及び表示文言検査用プログラム | 2024年10月25日 | |
特開 2024-148182 | 疑似乱数生成装置及び疑似乱数生成用プログラム | 2024年10月18日 | |
特開 2024-146331 | 2のべき乗数値計算回路 | 2024年10月15日 | |
特開 2024-146418 | 圧縮処理装置、伸張処理装置、圧縮処理用プログラム、伸張処理用プログラム | 2024年10月15日 | |
特開 2024-139050 | 機械学習判定モデル、機械学習判定モデル生成方法及び機械学習判定モデル生成用プログラム | 2024年10月 9日 | |
特開 2024-135189 | 光学検査方法、光学検査プログラム、及び、光学検査装置 | 2024年10月 4日 | |
特開 2024-83551 | 風向風速測定装置 | 2024年 6月21日 | |
特開 2024-80529 | NANDフラッシュメモリ | 2024年 6月13日 | |
特開 2024-67971 | 安全稼働制御装置及び制御対象装置の安全稼働制御方法 | 2024年 5月17日 | |
特開 2024-57524 | デバッグ装置及びデバッグ用プログラム | 2024年 4月24日 | |
特開 2024-57525 | テスト用NAND装置及びNAND装置のデバッグ方法 | 2024年 4月24日 | |
特開 2024-49157 | 時系列データ評価装置、時系列データ評価用プログラム及び時系列データ評価方法 | 2024年 4月 9日 | |
特開 2024-43352 | 半導体記憶装置 | 2024年 3月29日 | |
特開 2024-30167 | 半導体テスト装置及び半導体テスト方法 | 2024年 3月 7日 | |
特開 2024-5516 | 風向風速測定装置 | 2024年 1月17日 |
15 件中 1-15 件を表示
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2024-151655 2024-148182 2024-146331 2024-146418 2024-139050 2024-135189 2024-83551 2024-80529 2024-67971 2024-57524 2024-57525 2024-49157 2024-43352 2024-30167 2024-5516
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1月30日(木) - 東京 港区
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