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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第34787位 0件
(
2016年:第12189位 1件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第5450位 2件
(
2016年:第4304位 3件)
(ランキング更新日:2025年12月26日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6230167 | 局所測定を用いた試料の特徴付けのための装置及び方法 | 2017年11月15日 | |
| 特許 6218338 | 光ビームのスペクトルを分析するための分光計 | 2017年10月25日 |
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6230167 6218338
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1月7日(水) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
1月9日(金) -
1月9日(金) -
1月9日(金) -
1月10日(土) -
1月7日(水) -
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