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- 出願人詳細情報 -
出願人名に「株式会社メック」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 4777837 | 光拡散体検査方法および装置 | 株式会社メック | 2011年 9月21日 |
| 特許 4733808 | 欠陥検査装置 | 株式会社メック | 2011年 7月27日 |
| 特許 4639324 | ナノ・ファイバ製造装置およびそれを用いたナノ・ファイバ製造方法 | 株式会社メック 他 | 2011年 2月23日 |
| 特許 4619391 | 金属光沢繊維集合体およびその製造方法 | 株式会社メック | 2011年 1月26日 |
| 特許 4615532 | 欠陥検査装置、照明装置 | 株式会社メック | 2011年 1月19日 |
5 件中 1-5 件を表示
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4777837 4733808 4639324 4619391 4615532
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