| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5639433 | 欠陥検査装置および欠陥検査の閾値設定方法 | 株式会社メック | 2014年12月10日 |
| 特許 5610711 | 欠陥検査装置 | 株式会社メック | 2014年10月22日 |
| 特許 5592635 | 判定装置、判定方法、およびコンピュータープログラム | 株式会社メック | 2014年 9月17日 |
| 特許 5513069 | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 | 株式会社メック | 2014年 6月 4日 |
| 特許 5470130 | タグ | 株式会社メックモールド | 2014年 4月16日 |
| 特許 5382637 | エレクトロスピニング装置用スピナレット | 株式会社メック 他 | 2014年 1月 8日 |
| 特許 5383937 | ナノファイバ製造装置 | 株式会社メック | 2014年 1月 8日 |
7 件中 1-7 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5639433 5610711 5592635 5513069 5470130 5382637 5383937
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社メックの知財の動向チェックに便利です。
1月7日(水) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
1月9日(金) -
1月9日(金) -
1月9日(金) -
1月10日(土) -
1月7日(水) -
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
千葉県柏市若柴178番地4 柏の葉キャンパス148街区2 ショップ&オフィス棟6階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許
東京都豊島区東池袋3-1-1 サンシャイン60 45階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 コンサルティング