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ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド

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  2015年 出願公開件数ランキング    第1281位 20件 上昇2014年: 0件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第1115位 18件 上昇2014年: 0件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 5831944 質量分析計内の四重極からのRF電圧を測定するための装置 2015年12月 9日
特許 5825723 質量分析計イオンガイド内の汚染影響低減のためのイオンレンズ 2015年12月 2日
特許 5819943 表面からサンプルを抽出するためのシステムおよび方法 2015年11月24日
特許 5808807 放射方向振幅支援トランスファのための線形イオントラップ 2015年11月10日
特許 5798924 MSn質量分析においてイオンを多重化するための方法、システムおよび装置 2015年10月21日
特許 5792155 イオン移動度に対するイオン光学ドレイン 2015年10月 7日
特許 5781545 飛行時間型質量分析検出システムを操作する方法およびシステム 2015年 9月24日
特許 5777214 タンデムイオントラップを操作する方法 2015年 9月 9日
特許 5767581 調整可能な選択性および分解能を有する真空駆動微分型移動度分析計/質量分析計のための方法およびシステム 2015年 8月19日
特許 5756169 タンパク質信頼値を計算するためのシステムおよび方法 2015年 7月29日
特許 5756791 飛行時間型質量分析法におけるヒータを有するレンズアセンブリならびにその使用 2015年 7月29日
特許 5749018 低圧力短時間高振幅励起を提供するために線形イオントラップを動作する方法 2015年 7月15日
特許 5749276 質量分光計における多極に電力を提供するための装置 2015年 7月15日
特許 5746705 質量分光計内の多極に提供するためにRF信号およびAC信号を結合する装置および方法 2015年 7月 8日
特許 5735511 質量分析計においてイオンをフィルタリングするための方法、システムおよび装置 2015年 6月17日

20 件中 1-15 件を表示

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5831944 5825723 5819943 5808807 5798924 5792155 5781545 5777214 5767581 5756169 5756791 5749018 5749276 5746705 5735511

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