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ディーエイチ　テクノロジーズ　デベロップメント　プライベート　リミテッド

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ディーエイチ　テクノロジーズ　デベロップメント　プライベート　リミテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2024-133264	複数の検出能力を有する統合試料処理システム	2024年10月 1日
特表 2024-533704	イオンビーム強度変調のための偏向器ゲート	2024年 9月12日
特開 2024-105631	流体を処理するための電磁アセンブリ	2024年 8月 6日
特開 2024-103649	質量分析における単一電荷状態時の前駆体蓄積	2024年 8月 1日
特開 2024-83502	同位体選択的ＭＳ／ＭＳを用いたＭＲＭピーク純度の査定	2024年 6月21日
特開 2024-71734	汚染を低減させ、質量分析法システムのロバスト性を向上させるためのＲＦ／ＤＣカットオフ	2024年 5月24日
特表 2024-516215	電源	2024年 4月12日
特表 2024-515789	質量分析計用マイクロチャネルカートリッジ	2024年 4月10日
特表 2024-513677	生体サンプルの調製および分析	2024年 3月27日
特表 2024-513950	キャピラリー電気泳動におけるタンパク質分析のための天然蛍光検出	2024年 3月27日
特表 2024-513375	線形定量的ダイナミックレンジ拡張のための方法	2024年 3月25日
特表 2024-511076	高Ｍ／Ｚカットオフを含むサンプルを分析する方法	2024年 3月12日
特表 2024-510785	流体容器を処理するためのシステムおよび方法	2024年 3月11日
特表 2024-510669	１０Ｌ／分を上回る移送ガス流量を伴う微分移動度分光計／質量分光計インターフェース	2024年 3月 8日
特表 2024-510670	高圧電荷状態制御および／または断片化のための質量分光測定方法およびシステム	2024年 3月 8日

28 件中 1-15 件を表示

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2024-133264 2024-533704 2024-105631 2024-103649 2024-83502 2024-71734 2024-516215 2024-515789 2024-513677 2024-513950 2024-513375 2024-511076 2024-510785 2024-510669 2024-510670

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