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株式会社日本エイピーアイ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第33513位 0件
（
2015年：第32490位 0件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第4304位 3件
（
2015年：第8612位 1件）
（ランキング更新日：2025年2月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日本エイピーアイの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6002404 | 質量分析装置及びその使用方法、並びにガス透過特性測定方法 | 2016年10月 5日 | |
| 特許 5985265 | 破壊検査装置及びその使用方法 | 2016年 9月 6日 | |
| 特許 5985266 | 測定方法、大気圧イオン化質量分析装置及び破壊検査装置 | 2016年 9月 6日 |
3 件中 1-3 件を表示
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6002404 5985265 5985266
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