ホーム > 特許ランキング > 浜松ホトニクス株式会社 > 2021年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(浜松ホトニクス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2021年 出願公開件数ランキング 第181位 240件
(2020年:第205位 212件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第165位 183件
(2020年:第174位 167件)
(ランキング更新日:2025年2月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2021-133175 | 眼底画像処理方法、眼底画像処理装置、眼底画像処理プログラム、及びそのプログラムを記録する記録媒体 | 2021年 9月13日 | |
特開 2021-135229 | 光検出装置 | 2021年 9月13日 | |
特開 2021-136316 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2021年 9月13日 | |
再表 2020-79922 | 増幅回路用真空管及びそれを用いた増幅回路 | 2021年 9月 9日 | |
特開 2021-131327 | 検出システムおよび学習方法 | 2021年 9月 9日 | |
特開 2021-132147 | 加工対象物切断方法及び樹脂塗布装置 | 2021年 9月 9日 | |
特開 2021-132184 | プリズムロッドホルダ、レーザモジュール及びレーザ加工装置 | 2021年 9月 9日 | |
特開 2021-132192 | プリズムロッドホルダ、レーザモジュール及びレーザ加工装置 | 2021年 9月 9日 | |
特開 2021-132364 | 光干渉断層撮影装置 | 2021年 9月 9日 | |
特開 2021-129120 | 検査装置及び検査方法 | 2021年 9月 2日 | |
特開 2021-124308 | 放射線検出装置 | 2021年 8月30日 | |
特開 2021-124344 | 試料支持体及び試料支持体の製造方法 | 2021年 8月30日 | |
特開 2021-124481 | 光合成サンプルの評価システム、方法およびプログラム | 2021年 8月30日 | |
特開 2021-125288 | 質量分析装置、及び質量分析方法 | 2021年 8月30日 | |
特開 2021-125289 | 撮像ユニット、質量分析装置、及び質量分析方法 | 2021年 8月30日 |
256 件中 106-120 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2021-133175 2021-135229 2021-136316 2020-79922 2021-131327 2021-132147 2021-132184 2021-132192 2021-132364 2021-129120 2021-124308 2021-124344 2021-124481 2021-125288 2021-125289
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。浜松ホトニクス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月20日(木) - 東京 港区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
〒951-8152 新潟県新潟市中央区信濃町21番7号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
福岡県福岡市中央区天神2-3-10-719 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング