出願人名に「株式会社ＬＰＴＥＸ」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5221554 | ドントケアビット抽出方法及びドントケアビット抽出プログラム | 株式会社ＬＰＴＥＸ | 2013年 6月26日 |
| 特許 5141989 | 論理値決定方法及び論理値決定プログラム | 株式会社ＬＰＴＥＸ | 2013年 2月13日 |
| 特許 5141988 | 半導体集積回路の２パターンテストにおける誤テスト回避型テスト入力生成方法 | 株式会社ＬＰＴＥＸ | 2013年 2月13日 |
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5221554 5141989 5141988
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