特許ランキング - 出願人詳細情報 - English version here

ホーム > 特許ランキング > オリンパス株式会社 > 2015年 > 出願公開一覧

オリンパス株式会社

※ ログインすれば出願人(オリンパス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

  2015年 出願公開件数ランキング    第43位 879件 上昇2014年:第47位 797件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第35位 799件 上昇2014年:第52位 646件)

(ランキング更新日:2020年11月26日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年  2012年  2013年  2014年  2016年  2017年  2018年  2019年  2020年 

公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
再表 2013-161384 画像処理システム、画像処理方法および画像処理プログラム 2015年12月24日
再表 2013-161899 顕微鏡装置および顕微鏡装置の電動光学ユニットの制御方法 2015年12月24日
特表 2015-537187 位置検出センサおよびマニピュレータ 2015年12月24日
特開 2015-231425 内視鏡の保護構造 2015年12月24日
特開 2015-231495 カプセル型内視鏡システム、位置決定方法およびプログラム 2015年12月24日
特開 2015-231553 内視鏡装置 2015年12月24日
特開 2015-232493 光ファイバスキャナ、照明装置および観察装置 2015年12月24日
特開 2015-232636 レーザ走査顕微鏡 2015年12月24日
特開 2015-232767 医療業務支援装置 2015年12月24日
特開 2015-233199 撮像装置、撮像装置の制御方法及び撮像装置の制御プログラム 2015年12月24日
特開 2015-233232 画像取得装置 2015年12月24日
特開 2015-233238 画像処理装置、画像処理方法 2015年12月24日
特開 2015-233243 情報機器、画像処理方法およびプログラム 2015年12月24日
再表 2013-157283 標的粒子の検出方法 2015年12月21日
再表 2013-157319 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム 2015年12月21日

905 件中 1-15 件を表示

1 2 3 4 5 6 7次へ>

をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2013-161384 2013-161899 2015-537187 2015-231425 2015-231495 2015-231553 2015-232493 2015-232636 2015-232767 2015-233199 2015-233232 2015-233238 2015-233243 2013-157283 2013-157319

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。オリンパス株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

  • このサイトをYahoo!ブックマークに登録
  • はてなブックマークに追加

特許ランキング

2020年 特許出願件数2020年 特許取得件数
2019年 特許出願件数2019年 特許取得件数
2018年 特許出願件数2018年 特許取得件数
2017年 特許出願件数2017年 特許取得件数
2016年 特許出願件数2016年 特許取得件数
2014年 特許出願件数2014年 特許取得件数
2013年 特許出願件数2013年 特許取得件数
2012年 特許出願件数2012年 特許取得件数
2011年 特許出願件数2011年 特許取得件数
出願人を検索

今週の知財セミナー (11月30日~12月6日)

来週の知財セミナー (12月7日~12月13日)

特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介

福井特許事務所

〒166-0003 東京都杉並区高円寺南2-50-2 YSビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

弁護士法人クレオ国際法律特許事務所

〒103-0028 東京都中央区八重洲一丁目4番16号 東京建物八重洲ビル2階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

IP-Creation特許商標事務所

東京都練馬区豊玉北6-11-3 長田ビル3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 鑑定