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ファロ　テクノロジーズ　インコーポレーテッド

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　■　2017年出願公開件数ランキング　　　第1555位　17件（2016年：第2110位　10件）

　■　2017年特許取得件数ランキング　　　第8798位　1件（2016年：第2177位　8件）

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ファロ　テクノロジーズ　インコーポレーテッドの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2017-537304	環境を光学的にスキャンし測定するためのデバイスおよび方法	2017年12月14日
特表 2017-536554	３次元スキャンデータの位置合わせを迅速化するための２次元スキャナの使用法	2017年12月 7日
特表 2017-535765	冗長エネルギ源を有する座標計測機	2017年11月30日
特表 2017-531178	環境を光学的にスキャンし測定するためのデバイスおよび方法ならびに制御の方法	2017年10月19日
特表 2017-528714	３次元座標の光学測定のための方法および３次元測定デバイスの制御	2017年 9月28日
特表 2017-528727	２Ｄカメラ画像からの３Ｄ画像の生成に当たり３Ｄ計量器と併用される拡張現実カメラ	2017年 9月28日
特表 2017-527812	３次元座標の光学測定のための方法および３次元測定デバイスの較正	2017年 9月21日
特表 2017-524944	拡張現実のための６自由度三角計測スキャナとカメラ	2017年 8月31日
特表 2017-522636	検査を実行する計量デバイスおよび方法	2017年 8月10日
特開 2017-134059	入れ子構造において回転子を含む３Ｄ測定デバイス	2017年 8月 3日
特表 2017-519188	ダイクロイックビームスプリッタを有する各種信号捕捉用の三次元スキャナ	2017年 7月13日
特開 2017-111117	２次元スキャナによる測定値に基づいて各スキャン間で実行される３次元スキャナデータの位置合せ計算	2017年 6月22日
特開 2017-111118	３Ｄスキャナからの２次元（２Ｄ）スキャンデータに基づく３次元（３Ｄ）スキャン間の位置合せ計算	2017年 6月22日
特表 2017-516105	アナログ信号を用いた角度エンコーダのロバストなインデクス補正	2017年 6月15日
特表 2017-514117	視覚化されたクラスタを用いた統合されていない周辺空間のクラスタへの位置合わせ	2017年 6月 1日

17 件中 1-15 件を表示

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2017-537304 2017-536554 2017-535765 2017-531178 2017-528714 2017-528727 2017-527812 2017-524944 2017-522636 2017-134059 2017-519188 2017-111117 2017-111118 2017-516105 2017-514117

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