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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第1555位 17件 (2016年:第2110位 10件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第8798位 1件 (2016年:第2177位 8件)
(ランキング更新日:2024年9月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2017-537304 | 環境を光学的にスキャンし測定するためのデバイスおよび方法 | 2017年12月14日 | |
特表 2017-536554 | 3次元スキャンデータの位置合わせを迅速化するための2次元スキャナの使用法 | 2017年12月 7日 | |
特表 2017-535765 | 冗長エネルギ源を有する座標計測機 | 2017年11月30日 | |
特表 2017-531178 | 環境を光学的にスキャンし測定するためのデバイスおよび方法ならびに制御の方法 | 2017年10月19日 | |
特表 2017-528714 | 3次元座標の光学測定のための方法および3次元測定デバイスの制御 | 2017年 9月28日 | |
特表 2017-528727 | 2Dカメラ画像からの3D画像の生成に当たり3D計量器と併用される拡張現実カメラ | 2017年 9月28日 | |
特表 2017-527812 | 3次元座標の光学測定のための方法および3次元測定デバイスの較正 | 2017年 9月21日 | |
特表 2017-524944 | 拡張現実のための6自由度三角計測スキャナとカメラ | 2017年 8月31日 | |
特表 2017-522636 | 検査を実行する計量デバイスおよび方法 | 2017年 8月10日 | |
特開 2017-134059 | 入れ子構造において回転子を含む3D測定デバイス | 2017年 8月 3日 | |
特表 2017-519188 | ダイクロイックビームスプリッタを有する各種信号捕捉用の三次元スキャナ | 2017年 7月13日 | |
特開 2017-111117 | 2次元スキャナによる測定値に基づいて各スキャン間で実行される3次元スキャナデータの位置合せ計算 | 2017年 6月22日 | |
特開 2017-111118 | 3Dスキャナからの2次元(2D)スキャンデータに基づく3次元(3D)スキャン間の位置合せ計算 | 2017年 6月22日 | |
特表 2017-516105 | アナログ信号を用いた角度エンコーダのロバストなインデクス補正 | 2017年 6月15日 | |
特表 2017-514117 | 視覚化されたクラスタを用いた統合されていない周辺空間のクラスタへの位置合わせ | 2017年 6月 1日 |
17 件中 1-15 件を表示
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2017-537304 2017-536554 2017-535765 2017-531178 2017-528714 2017-528727 2017-527812 2017-524944 2017-522636 2017-134059 2017-519188 2017-111117 2017-111118 2017-516105 2017-514117
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