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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第3520位 5件 (2017年:第12799位 1件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第23370位 0件 (2017年:第8798位 1件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2018-534223 | 単結晶ブロックを転写する方法 | 2018年11月22日 | |
特表 2018-531381 | 多層半導体構造の層における厚さ変動を測定する方法 | 2018年10月25日 | |
特表 2018-523300 | 電荷をトラップするための層を含む半導体素子の製造方法 | 2018年 8月16日 | |
特開 2018-64094 | 回収装置を有する熱処理システム | 2018年 4月19日 | |
特表 2018-508768 | 基板の電気的特性を測定するための、方法、装置およびシステム | 2018年 3月29日 |
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2018-534223 2018-531381 2018-523300 2018-64094 2018-508768
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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