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出願人名に「メトリックス・リミテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特表 2011-514006 | 半導体ウェハモニタリング装置および方法 | メトリックス・リミテッド | 2011年 4月28日 |
| 特表 2011-512022 | 半導体デバイス製造を制御する方法 | メトリックス・リミテッド | 2011年 4月14日 |
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2011-514006 2011-512022
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