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出願人名に「メトリックス・リミテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2014-135497 | 半導体デバイス製造を制御する方法 | メトリックス・リミテッド | 2014年 7月24日 |
| 特表 2014-512005 | 測定装置及び方法 | メトリックス・リミテッド | 2014年 5月19日 |
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2014-135497 2014-512005
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