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出願人名に「メトリックス・リミテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5646349 | 半導体ウェハ製造をモニタリングする方法 | メトリックス・リミテッド | 2014年12月24日 |
| 特許 5495207 | 測定装置および測定方法 | メトリックス・リミテッド | 2014年 5月21日 |
| 特許 5490721 | 半導体デバイス製造を制御する方法 | メトリックス・リミテッド | 2014年 5月14日 |
| 特許 5414124 | 半導体ウェハ計測装置および方法 | メトリックス・リミテッド | 2014年 2月12日 |
| 特許 5414123 | 半導体ウェハ計測装置および方法 | メトリックス・リミテッド | 2014年 2月12日 |
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5646349 5495207 5490721 5414124 5414123
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