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株式会社クオルテック
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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第1863位 12件
（
2020年：第2497位 8件）
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第5804位 2件
（
2020年：第5436位 2件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社クオルテックの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2021-194129 | 殺菌フィルタおよび当該殺菌フィルタの製造方法および空気殺菌装置 | 2021年12月27日 | |
| 特開 2021-179038 | マスク | 2021年11月18日 | |
| 特開 2021-150546 | 半田チップの製造方法と半田チップおよびそれを用いた接合層評価装置 | 2021年 9月27日 | |
| 特開 2021-136282 | 接合層評価方法および接合層評価装置 | 2021年 9月13日 | |
| 特開 2021-117216 | 半導体試験装置および半導体素子の試験方法 | 2021年 8月10日 | |
| 特開 2021-113800 | 半導体試験装置及び半導体素子の試験方法 | 2021年 8月 5日 | |
| 特開 2021-110753 | 物体内部の可視化装置及び可視化方法と当該コンピュータプログラム。 | 2021年 8月 2日 | |
| 特開 2021-99304 | 接合層の評価方法及び接合層評価装置 | 2021年 7月 1日 | |
| 特開 2021-26009 | 電気素子試験装置および電気素子の試験方法 | 2021年 2月22日 | |
| 特開 2021-21721 | 電気素子試験装置および電気素子の試験方法 | 2021年 2月18日 | |
| 特開 2021-13297 | 電気素子試験装置および電気素子の試験方法 | 2021年 2月 4日 | |
| 特開 2021-1810 | インピーダンス測定のための標準試料 | 2021年 1月 7日 |
12 件中 1-12 件を表示
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2021-194129 2021-179038 2021-150546 2021-136282 2021-117216 2021-113800 2021-110753 2021-99304 2021-26009 2021-21721 2021-13297 2021-1810
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