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■ 2021年 出願公開件数ランキング 第7646位 2件
(2020年:第4292位 4件)
■ 2021年 特許取得件数ランキング 第2482位 6件
(2020年:第5436位 2件)
(ランキング更新日:2025年4月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6957587 | 荷電粒子ビーム装置、荷電粒子ビーム装置のための交換可能マルチ開孔構成、および荷電粒子ビーム装置を操作するための方法 | 2021年11月 2日 | |
特許 6955325 | 適応2次荷電粒子光学系を用いて2次荷電粒子ビームを画像化するシステムおよび方法 | 2021年10月27日 | |
特許 6905555 | 荷電粒子ビーム装置、荷電粒子ビーム装置のためのマルチビームブランカ、および荷電粒子ビーム装置を動作させるための方法 | 2021年 7月21日 | |
特許 6856987 | 試料を検査および/または撮像する荷電粒子ビーム装置および方法 | 2021年 4月14日 | |
特許 6845900 | 荷電粒子ビーム装置、荷電粒子ビーム装置のためのマルチビームブランカ、および荷電粒子ビーム装置を動作させるための方法 | 2021年 3月24日 | |
特許 6826637 | 高性能検査走査電子顕微鏡装置およびその動作方法 | 2021年 2月 3日 |
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6957587 6955325 6905555 6856987 6845900 6826637
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4月9日(水) -
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