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出願人名に「パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5617633 | イオン移動度分光測定法の使用による分析物の検出 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2014年11月 5日 |
| 特許 5610167 | 粒子検出用の２次元光学画像化方法及びシステム | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2014年10月22日 |
| 特許 5574250 | 流量がモニタリングされる粒子センサ | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2014年 8月20日 |
| 特許 5478501 | 粒子検出用の２次元光学画像化方法及びシステム | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2014年 4月23日 |
| 特許 5473931 | 光学粒子計数器を較正検証するためのシステム及び方法 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | 2014年 4月16日 |
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5617633 5610167 5574250 5478501 5473931
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