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ルドルフ・テクノロジーズ，インコーポレーテッド
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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第1879位 9件
（
2025年：第2022位 10件）
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第1988位 7件
（2025年：第4436位 3件）
（ランキング更新日：2026年10月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ルドルフ・テクノロジーズ，インコーポレーテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7934009 | 基板及び膜を特性評価するための装置 | 2026年10月13日 | |
| 特許 7914247 | 物理モデリング及び機械学習を使用したハイブリッド計測のための複数の信号源 | 2026年 9月 1日 | |
| 特許 7895020 | 関心対象の複雑な構造のための計測ソリューション | 2026年 7月31日 | |
| 特許 7852070 | 試料の特性評価を実行するためのシステム及び方法 | 2026年 4月27日 | |
| 特許 7846260 | 関心対象の複雑な構造のための計測ソリューション | 2026年 4月14日 | |
| 特許 7801435 | 深層ニューラルネットワークを使用した基板マッピング | 2026年 1月16日 | |
| 特許 7798742 | ハイミックス半導体製造における深層学習モデル | 2026年 1月14日 |
7 件中 1-7 件を表示
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7934009 7914247 7895020 7852070 7846260 7801435 7798742
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