ホーム > 特許ランキング > ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー > 2016年 > 特許一覧
ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー
※ ログインすれば出願人(ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2016年 出願公開件数ランキング 第33513位 0件
（
2015年：第11806位 1件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第1540位 13件
（
2015年：第2016位 8件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハーの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6035018 | 連続的な光シートを用いるＳＰＩＭ顕微鏡 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6035019 | ＳＴＥＤ光シートを用いるＳＰＩＭ顕微鏡 | 2016年11月30日 | |
| 特許 6035023 | 共焦点走査型顕微鏡における画像歪みを補正する方法 | 2016年11月30日 | |
| 特許 5982405 | オートフォーカス装置を有する顕微鏡及び顕微鏡でのオートフォーカス方法 | 2016年 8月31日 | |
| 特許 5975647 | 走査顕微鏡により試料を画像化するための方法および装置 | 2016年 8月23日 | |
| 特許 5961373 | 顕微鏡ステージおよび顕微鏡 | 2016年 8月 2日 | |
| 特許 5941634 | マイクロおよびマクロ対物レンズを含む顕微鏡 | 2016年 6月29日 | |
| 特許 5941664 | 旋回可能な対物レンズホルダを備える顕微鏡ステージ | 2016年 6月29日 | |
| 特許 5934701 | 音響光学システム、顕微鏡、および音響光学システムの使用方法 | 2016年 6月15日 | |
| 特許 5891000 | サンプル構造の顕微鏡結像用の方法および装置 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5891222 | 調整可能な多重レーザパルス走査顕微鏡およびその操作方法 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5883855 | 試料構造を光学顕微鏡法で撮像する方法及び装置 | 2016年 3月15日 | |
| 特許 5841750 | 顕微鏡用の自動合焦装置および適切な自動焦点開口絞り | 2016年 1月13日 |
13 件中 1-13 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6035018 6035019 6035023 5982405 5975647 5961373 5941634 5941664 5934701 5891000 5891222 5883855 5841750
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハーの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
8月27日(水) - 東京 港区
8月27日(水) -
8月27日(水) -
8月28日(木) - 東京 港区
8月28日(木) -
8月28日(木) -
8月29日(金) - 大阪 大阪市
8月29日(金) -
8月29日(金) -
8月29日(金) - 東京 港区
8月29日(金) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
9月1日(月) - 東京 港区
特許庁：AI／DX時代に即した産業財産権制度について ～有識者委員会での議論を踏まえた、特許・意匠制度の見直しの方向性～
9月1日(月) -
9月2日(火) -
9月2日(火) -
9月2日(火) - 東京 港区
9月3日(水) -
9月3日(水) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月4日(木) -
9月4日(木) - 大阪 大阪市
9月5日(金) -
9月5日(金) -
9月6日(土) -
9月1日(月) - 千葉 千葉市美浜区中瀬1丁目3番地
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
愛知県名古屋市天白区中平三丁目2702番地 グランドールＳ 203号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県小牧市小牧４丁目２２５番地２ 澤屋清七ビル３ ２０６ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒543－0014 大阪市天王寺区玉造元町2番32－1301 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
