富士電機株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第50位 749件
（
2011年：第125位 360件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第60位 618件
（2011年：第114位 318件）
（ランキング更新日：2025年1月31日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士電機株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4872345 | 電力変換装置のインバータモジュール | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4872217 | 炭化珪素半導体素子の製造方法 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4872208 | 半導体装置の製造方法 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4872498 | パルス幅変調方法 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4872122 | 交流直接変換器の制御装置 | 2012年 2月 8日 | |
| 特許 4870491 | 燃料改質装置 | 2012年 2月 8日 | 共同出願 |
| 特許 4870649 | 配電盤 | 2012年 2月 8日 | 共同出願 |
| 特許 4865527 | 軟磁性成形体およびその製造方法 | 2012年 2月 1日 | 共同出願 |
| 特許 4867224 | ショーケース | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4867181 | 電子部品実装用熱硬化性樹脂組成物 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4868283 | 薄膜形成装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4867503 | 冷却装置 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4867639 | 半導体素子評価装置及び半導体素子評価方法 | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4867557 | プログラマブルコントローラ | 2012年 2月 1日 | |
| 特許 4867864 | 性能データ収集・表示システム、性能データ表示装置、そのプログラム | 2012年 2月 1日 |
618 件中 556-570 件を表示
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4872345 4872217 4872208 4872498 4872122 4870491 4870649 4865527 4867224 4867181 4868283 4867503 4867639 4867557 4867864
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＜エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け＞ 基礎から学ぶ／自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 ＜東京会場受講（対面）／Zoomオンライン受講 選択可＞ ＜見逃し視聴選択可＞
2月14日(金) - 東京 千代田区
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