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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第273位 150件
(2010年:第213位 239件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第137位 269件
(2010年:第98位 302件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-176042 | 半導体回路パターンの形成方法 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-175709 | 半導体記憶回路 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-175708 | 半導体記憶装置のデコーダ回路 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-176351 | 半導体装置およびその製造方法 | 2011年 9月 8日 | |
特開 2011-170926 | 半導体メモリの内部電源回路 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-169864 | 運動検出装置、電子機器、運動検出方法及びプログラム | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171615 | 半導体素子製造方法 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171638 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171634 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171660 | 電子部品の製造方法 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171609 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171604 | 電子部品製造方法、電子部品製造装置及び感光性レジスト | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171654 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171356 | 半導体装置および配線用マスク判別方法 | 2011年 9月 1日 | |
特開 2011-171494 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 9月 1日 |
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2011-176042 2011-175709 2011-175708 2011-176351 2011-170926 2011-169864 2011-171615 2011-171638 2011-171634 2011-171660 2011-171609 2011-171604 2011-171654 2011-171356 2011-171494
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【特許のはなし・生成系AIのリスクのはなし】~特許の使い方・使える特許の作り方と、生成系AIを業務で使う場合のリスクと対応策について~
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