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ＯＫＩセミコンダクタ株式会社
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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第273位 150件
（
2010年：第213位 239件）
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第137位 269件
（2010年：第98位 302件）
（ランキング更新日：2022年9月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ＯＫＩセミコンダクタ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-244322 | オペアンプ | 2011年12月 1日 | |
| 特開 2011-237199 | プローブカードの検査方法及び検査システム | 2011年11月24日 | |
| 特開 2011-232161 | 半導体装置及び電池電圧の監視方法 | 2011年11月17日 | |
| 特開 2011-233749 | パターン形成方法及び半導体装置の製造方法 | 2011年11月17日 | |
| 特開 2011-233773 | ウエハ移載装置及びウエハ移載方法 | 2011年11月17日 | |
| 特開 2011-233048 | 半導体装置 | 2011年11月17日 | |
| 特開 2011-233198 | 半導体不揮発性記憶装置 | 2011年11月17日 | |
| 特開 2011-228424 | 半導体装置の製造方法 | 2011年11月10日 | |
| 特開 2011-223824 | チャージポンプ型の昇圧回路及び昇圧方法 | 2011年11月 4日 | |
| 特開 2011-216240 | 電流ヒューズ、半導体装置及び電流ヒューズの切断方法 | 2011年10月27日 | |
| 特開 2011-214857 | 赤外線センサ素子 | 2011年10月27日 | |
| 特開 2011-216140 | 強誘電体メモリのスクリーニング方法 | 2011年10月27日 | |
| 特開 2011-216592 | 半導体集積回路装置 | 2011年10月27日 | |
| 特開 2011-209638 | フォトマスク、及び半導体装置の製造方法 | 2011年10月20日 | |
| 特開 2011-211089 | トランジスタ、半導体装置及びトランジスタの製造方法 | 2011年10月20日 |
150 件中 1-15 件を表示
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2011-244322 2011-237199 2011-232161 2011-233749 2011-233773 2011-233048 2011-233198 2011-228424 2011-223824 2011-216240 2011-214857 2011-216140 2011-216592 2011-209638 2011-211089
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