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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第273位 150件
(2010年:第213位 239件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第137位 269件
(2010年:第98位 302件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-138942 | 半導体素子及び半導体素子の製造方法 | 2011年 7月14日 | |
特開 2011-138427 | ノイズ除去装置、ノイズ除去方法、及びノイズ除去プログラム | 2011年 7月14日 | |
特開 2011-133907 | 表示装置用パワーダウンショート回路 | 2011年 7月 7日 | 共同出願 |
特開 2011-134774 | 微小容量素子及びこれを用いた半導体装置 | 2011年 7月 7日 | |
特開 2011-130341 | 信号処理装置及び信号処理方法 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-129941 | アモルファス膜を備える半導体装置、及び半導体装置の製造方法 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-130348 | 電圧変化検知装置 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-128477 | 液晶パネルのソースドライバ | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-129815 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-130342 | 信号処理装置及び信号処理方法 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-130276 | 同期処理システム及び半導体集積回路 | 2011年 6月30日 | |
特開 2011-124436 | 光検出装置及び光検出装置の製造方法 | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-123356 | 素数生成装置、素数生成方法、及び素数生成プログラム | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-124587 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 6月23日 | |
特開 2011-124272 | 半導体装置及びその製造方法 | 2011年 6月23日 |
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2011-138942 2011-138427 2011-133907 2011-134774 2011-130341 2011-129941 2011-130348 2011-128477 2011-129815 2011-130342 2011-130276 2011-124436 2011-123356 2011-124587 2011-124272
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7月25日(金) - 東京 立川市
【特許のはなし・生成系AIのリスクのはなし】~特許の使い方・使える特許の作り方と、生成系AIを業務で使う場合のリスクと対応策について~
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