ホーム > 特許ランキング > 浜松ホトニクス株式会社 > 2012年 > 出願公開一覧
※ ログインすれば出願人(浜松ホトニクス株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第237位 185件 (2011年:第242位 175件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第163位 233件 (2011年:第157位 228件)
(ランキング更新日:2025年1月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-255731 | 円二色性イメージング装置 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-256685 | 半導体発光素子 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-257332 | 固体撮像装置 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-252879 | 電子増倍器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-253133 | 光検出器 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-247397 | 集積回路検査装置 | 2012年12月13日 | |
特開 2012-242790 | 試料観察方法、及びレンズホルダ | 2012年12月10日 | |
特開 2012-240107 | レーザ加工方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-240129 | 光モジュール及びその製造方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242117 | 分光装置 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242450 | 光学部品の製造方法及び光学部品 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242157 | 半導体試料の検査装置 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242165 | X線装置 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-242115 | 分光装置 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-238012 | 光照射装置および光照射方法 | 2012年12月 6日 |
185 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2012-255731 2012-256685 2012-257332 2012-252879 2012-253133 2012-247397 2012-242790 2012-240107 2012-240129 2012-242117 2012-242450 2012-242157 2012-242165 2012-242115 2012-238012
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。浜松ホトニクス株式会社の知財の動向チェックに便利です。
2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
2月4日(火) -
2月4日(火) -
2月5日(水) - 東京 港区
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月5日(水) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
東京都外神田4-14-2 東京タイムズタワー2703号室 特許・実用新案 鑑定
〒460-0003 愛知県名古屋市中区錦1-11-11 名古屋インターシティ16F 〒104-0061 東京都中央区銀座8-17-5 THE HUB 銀座OCT 407号室(東京支店) 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定